氢异常辉光放电阴极鞘层区中Hn+的质谱分析

摘要：

利用三级差分抽气的分子束质谱装置,对短间隙纯氢异常辉光放电阴极鞘层区中Hn+ (n＝l～3)离子粒种及相对离子流强度与气压、放电电流的关系进行了研究.在133～665Pa氢气压下的放电离子流中,H+占90%以上,其次是H+3 ,H+2 几近为零,且H+与H3+ 的离子流强度比值随气压升高迅速增加.同一气压下,放电电流在一定范围内变化只是改变总离子流的强度,而不同离子的相对离子流强度改变不大.对纯氢等离子体中所包含的主要基元物理-化学过程进行了讨论.

关键词：分子束质谱、氢等离子体、异常辉光放电

所属期刊栏目：20

分类号：O536(等离子体物理学)

资助基金：中国科学院资助项目19575007;大连理工大学校科研和教改项目

在线出版日期：2004-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：43-47