硅粉水泥石中微孔界面分形结构实验研究

摘要：

采用X射线小角散射(SAXS)技术,对硅粉水泥石中微孔孔界面分形结构进行实验研究.结果表明,硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界,而是有一个2nm左右的电子密度缓变的过渡层;微孔界面具有分形结构特征,分形维数与3接近,说明其孔界面是非常粗糙的;水胶比、硅粉含量对孔界面分形维数具有显著的影响,笔者根据实验结果,从微观的角度进行了探讨性的解释.

关键词：小角度X射线散射、硅粉、水泥石、孔界面、分形结构

所属期刊栏目：32

分类号：TU502;TQ172.71+9.9(建筑材料)

在线出版日期：2004-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：71-75