论技术溢出效应的计量和分离
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

论技术溢出效应的计量和分离

引用
在技术溢出效应的研究中,焦点的问题是对溢出效应的计量和分离。本文根据经济计量学原理,对溢出效应的计量和分离提出了新见解,并且应用陕西省改革开放30年(1978—2007年)的数据进行了实证分析。实证分析结果表明,以技术水平作为因变量进行多元线性模型回归,以所得到的常参数来表示技术水平中的溢出部分,与客观实际具有相当的吻合性。

技术水平、溢出效应、回归常参数

F832.6(金融、银行)

国家社会科学基金;陕西省高校重点学科建设专项

2012-04-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

35-41

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

宏观经济研究

1008-2069

11-3952/F

2012,(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn