低功耗测试研究进展

摘要：

随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点.文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明.

关键词：测试功耗、低功耗、芯片设计

所属期刊栏目：32

分类号：TP391.76(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家863重点基础研究发展计划资助项目2007AA01Z113;中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室开放课题基金资助项目ICT-ARCH200704;合肥工业大学科学研究发展基金资助项目070501F;高等学校博士学科点专项科研新教师基金资助项目200803591033;中国博士后科学基金资

在线出版日期：2009-07-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：769-773,785