GIS耐压试验中电晕损耗对品质因数的影响

摘要：

分析不同试验回路中品质因数及高压导线电晕损耗的影响因素,通过耐压试验实例阐述电晕损耗与品质因数的关系,提出减小高压导线电晕损耗以增大品质因数的建议.

关键词：GIS、耐压试验、电晕损耗、品质因数

所属期刊栏目：30

分类号：TM851(高电压技术)

在线出版日期：2011-05-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：46-48