10.3969/j.issn.1001-9898.2009.04.005
1998-2004年制造的集合式电容器故障率高的原因分析
介绍集合式电容器的特点和1998-2004年间制造的集合式电容器的故障情况,从元件缺陷、内部接线方式、内部介质、内熔丝位置和未加放电电阻等结构特点入手,分析这一时期集合式电容器故障率高的原因,并有针对性地给出了结构改进的措施.
集合式电容器、结构、内部接线方式、内熔丝
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TM531.4(电器)
2009-10-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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