CMS-GEM探测器电子学板测试工具的研制

摘要：

针对CMS-GEM探测器前端电子学板(GEB)的研制和生产中质量控制的需求,研发了新的自动化测试工具,对电子学板进行连通性和误码率测试.应用基于FPGA的片上系统,提高了测试效率和可靠性,并可自动存储测试结果.该套测试设备已应用在GEB的研制和批量生产质量控制工作中,检验合格的GEB已经运往CERN进行探测器的组装.

关键词：气体电子倍增器、质量控制、FPGA、自动化测试

所属期刊栏目：43

分类号：TL81(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：国家自然科学基金12061141001

在线出版日期：2023-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：163-168