10.3969/j.issn.0258-0934.2016.02.007
CCD 探测器的相对探测效率标定
探测器的探测效率是表征探测器性能的一个重要参数,需对其进行标定。本次试验使用复旦大学EBIT设备,以其配有的高纯锗探测器为标准,对低能X射线望远镜的CCD探测器进行探测效率的相对标定,得到在6.7、8.3、9.1、9.7、10.4、11.9和13.3 keV七个能量点CCD探测器相对于高纯锗探测器的探测效率。其讨论使用的标定方法对今后的探测效率标定工作具有意义。
CCD探测器、相对探测效率、EBIT TL 816+.1
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TL816+.1(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)
中国科学院战略先导项目资助。
2016-07-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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