Si－PIN探测器灵敏体积最优厚度的MC模拟

摘要：

Si－PIN探测器灵敏材料厚度影响探测时间、探测结果可靠性及设备价格。从能量响应谱的比对研究证实EGS4模拟适用于Si－PIN探测器能量色散X荧光仪的设计分析。通过不同入射X射线对不同厚度灵敏体积的Si－PIN探测器的能量响应模拟研究发现：探测器灵敏体积最优厚度随待测X射线的能量增加而变厚，厚度与特征峰计数或峰总比的饱和厚度相等。

关键词：最优厚度、Si-PIN探测器、EGS4平台

分类号：TL814(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

资助基金：国家自然科学基金11205031；核技术应用教育部工程研究中心基金 HJSJYB2014－7， HJSJYB2014－8资助。

在线出版日期：2016-04-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：985-988