X射线线阵列探测器数字图像的非均匀性原因分析
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.0258-0934.2003.05.008

X射线线阵列探测器数字图像的非均匀性原因分析

引用
在论述X射线线阵列探测器辐射数字成像系统的基础上,对X射线线阵列探测器辐射数字成像系统获取的图像的非均匀性产生机理进行了理论分析,并在理论分析基础上从测量和校正的角度对各种非均匀性产生因素进行了分类,以便对图像的非均匀性校正的方法及减小图像非均匀性产生的技术途径.

线阵列探测器、非均匀性、图像分析、校正

23

TL817.1(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

核工业科学基金97E008001;湖南省科技厅科研项目99SSY2001

2003-10-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

414-416

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

核电子学与探测技术

0258-0934

11-2016/TL

23

2003,23(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn