X射线分层成像的深度谱立体匹配技术

摘要：

X射线透视成像中物体互相重叠,有时边缘模糊不清.利用深度谱分析物体层次,提高了立体匹配的置信度,提高了X 射线立体透视的分层成像的质量.给出了实测深度谱和分层成像结果.

关键词：立体匹配、X射线透视成像、分层成像

所属期刊栏目：19

分类号：TL8(粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：178-181