分光光度法测定电热绝缘材料中硼的研究

摘要：

@@ 电热绝缘材料中硼的测定是制造和控制电器质量的一个重要环节,若在电热绝缘材料中加入少量的硼,则有利于某些特殊电热绝缘材料的生成,而硼的含量一旦过高,则会使材料的绝缘性能恶化,因而控制和测定其中的硼含量已成为电热绝缘材料生产中的一个很重要的研究课题.以往测硼的方法主要有姜黄素法[1]、苯羟乙酸-孔雀石绿法[2]等光度法及原子吸收法等.除原子吸收外大多数方法在测定时都往往需采用沉淀、萃取、离子交换等方法将硼与干扰元素分离或采用选择性较高的HPTA直接测定,但此方法需用浓硫酸作为介质,操作不太方便.因此,电热绝缘材料中硼的测定一直是一个有待解决的问题.由潘教麦等以甲亚胺H作测硼的显色剂,取得较好的效果[3],因此我们将此类试剂3-甲氧基-甲亚胺H应用于电热绝缘材料中硼的分析,直接分光光度法测定,获得较满意的效果.试剂的结构式为:

机标关键词：分光光度法测定、电热、绝缘材料生产、原子吸收法、硼的测定、方法、甲亚胺、直接测定、元素分离、研究课题、性能恶化、试剂、离子交换、控制电器、孔雀石绿、硼含量、苯羟乙酸、选择性、显色剂、浓硫酸

分类号：O613.81(无机化学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：95-97