10.3969/j.issn.0258-0926.2006.06.014
氢化锆表面CO2反应层XPS分析
通过X射线光电子能谱分析了经过700℃加热前后的用CO2反应法制备的氢化锆表面反应层中一定深度(100nm、200nm和300nm)的C、O和Zr的化学态,并用相对灵敏度因子法对X射线光电子能谱分析结果进行了计算分析.结果表明:700℃加热前的膜层中含有C、O和Zr以及C-H键和-OH键;经过700℃加热以后,氢化锆表面氢渗透阻挡层中不仅有C-H键和-OH键,而且还出现了-COOH,与H结合的C、O量增大.
氢化锆、CO2反应层、X射线光电子能谱分析、氢渗透、相对灵敏度因子法
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TG146.4+14;TG115.3(金属学与热处理)
国家重点实验室基金51481260105SC0301
2007-01-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
62-65,69