10.3969/j.issn.1674-3504.2004.02.015
原位磁化X射线粉末衍射法测还原铁粉的微观磁致伸缩系数
首次报导X射线粉末衍射法测量铁粉晶胞的磁致伸缩系数.还原铁粉样品原位磁化后,铁立方晶胞产生磁致伸缩效应,晶胞参数的变化引起衍射峰位置和晶面间距的变化.实验测得铁晶胞λ100为3.33×10-4,此结果表明铁晶胞的微观磁致伸缩系数比棒状、薄膜或粉末压片的系数大约16倍.对此现象进行了合理的理论解释,指出大块材料中的粉末多晶之间具有较大的空隙,从而使得宏观磁致伸缩系数变小.
X射线粉末衍射、磁致伸缩、原位磁化
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O645.16+2;O766+3(物理化学(理论化学)、化学物理学)
福建省自然科学基金E0110010
2004-07-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
178-180