电磁继电器长贮零失效情况下的Bayes可靠性评估方法

摘要：

电磁继电器作为一种高可靠、长寿命产品,在长期贮存过程中经常会遇到零失效的情况.文中采用Bayes方法结合性能退化数据来解决电磁继电器无失效数据的可靠性评估问题,利用K-S检验法得到电磁继电器的贮存寿命模型服从威布尔分布,通过Bootstrap抽样和MCMC方法分别对先验分布和后验分布进行求解.结果表明,Bootstrap抽样确定未知参数的先验分布相比于传统方法更精确,MCMC方法则解决了后验分布求解复杂的问题,并通过实例验证了Bayes方法在零失效情况下进行可靠性评估的可行性.

关键词：电磁继电器、Bayes方法、性能退化数据、Bootstrap抽样、贮存可靠性

所属期刊栏目：33

分类号：O346.2;TG146.2(固体力学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目51507074;中国博士后科学基金资助项目2015M571898;江苏省高校自然科学研究面上项目17KJB510014;江苏省研究生科研与实践创新计划资助项目KYCX19_1692

在线出版日期：2019-11-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：67-72