一种高性能的低压CMOS带隙基准电压源的设计

摘要：

提出一种新型的芯片内基准电压源的设计方案,基准电压源是当代数模混合集成电路以及射频集成电路中极为重要的组成部分.为满足大规模低压CMOS集成电路中高精度比较器、数模转换器、高灵敏RF等电路对基准电压源的苛刻需要,芯片内部基准电压源大部分采用基准带隙电压源.研究并设计了一种低功耗、超低温度系数和较高的电源抑制比的高性能低压CMOS带隙基准电压源.其综合了一级温度补偿、电流反馈技术、偏置电路温度补偿技术、RC相位裕度补偿技术.该电路采用台积电(TSMC)0.18 μm工艺,并利用Specture进行仿真,仿真结果表明了该设计方案的合理性以及可行性,适用于在低电压下电源抑制比较高的低功耗领域应用.

关键词：带隙、基准电压源、低温度系数、高电源电压抑制比

所属期刊栏目：33

分类号：TN45(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：河北省教育厅高等学校科学研究计划项目Z2011230;河北科技大学理工学院教育教学改革研究项目2010Z01

在线出版日期：2012-11-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：325-329