基于差分信号的硅通孔无损缺陷判断与定位

摘要：

硅通孔(Through Silicon Vias,TSV)技术是三维集成电路的核心技术之一.在TSV加工过程中由于填充不均匀、化学机械剖光不彻底等,会造成过孔的开路、短路等缺陷,进而影响系统性能.高效精准的无损检测方法有利于剔除有缺陷裸片,降低缺陷对系统性能的影响.通过分析差分信号激励时地—信号—信号—地(Ground-Signal-Signal-Ground,GSSG)型TSV的电特性,提炼出缺陷无损检测及定位方法,即利用存在缺陷时差模和共模S参数的特点来判断缺陷类型;利用差模S参数及其对频率的数值导数随缺陷位置变化的特点对缺陷进行定位.此外,还对比了输入分别为单端信号和差分信号时的缺陷判断方法,结果表明基于差分信号的缺陷判断方法在判断对地短路缺陷方面比单端信号更有优势.

关键词：硅通孔、差分信号、开路缺陷、短路缺陷、无损检测

所属期刊栏目：35

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金资助项目;山西省教育厅高校科技创新资助项目;山西大学2018中央提升人才事业启动经费资助项目

在线出版日期：2021-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：68-73,83