应用太赫兹技术对云冈石窟不同岩石样品的分析

摘要：

利用可实现无损检测的太赫兹时域透射光谱系统,测量由云冈石窟第四窟所采集的风化石雕和附近山体深部未被风化的岩石样品的时域谱.用Origin和Matlab软件处理数据得到样品的吸收谱和折射谱.通过比较分析得出,在低频区两组样品的吸收系数差别不大而且吸收都很弱,在高频区未被风化岩石样品的吸收系数大于已风化石雕样品.在整个波段,两组样品的折射率较稳定基本没发生大的波动,未被风化岩石样品的折射率为1.524,已风化岩石样品的折射率为1.482.据此不仅可以将这两组样品区分鉴别开来,而且还能为其他研究云冈石窟的学者提供此波段的光学常数.

关键词：无损检测、太赫兹波、云冈石窟、风化

所属期刊栏目：25

分类号：O433.2(光学)

资助基金：国家科技支撑计划课题资助项目2009BAK53B01;山西省高等学校哲学社会科学研究基地资助项目2010317;山西大同大学科学研究资助项目2010Q1

在线出版日期：2012-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：536-539