便携式 X-射线透视仪图像非均匀性分析及校正
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1671-7449.2007.04.010

便携式 X-射线透视仪图像非均匀性分析及校正

引用
从射线场强度的非均匀性、转换屏响应不一致性和 CCD 相机像元光电响应不一致性三方面对便携式X射线透视仪图像非均匀性的产生机理进行了理论分析. 并在此基础上建立了透视仪每个像元通道光电响应的数学模型. 基于该模型,提出了一种多点线性拟合校正算法. 给出了应用本方法校正前后的图像结果及标准差对比情况. 本方法已应用于便携式安检排爆 X-射线检测系统.

射线成像、像元响应一致性、非均匀性校正、线性校正

21

TP391.4(计算技术、计算机技术)

北京市科技新星计划A基金2005A14

2007-10-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

336-340

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

测试技术学报

1671-7449

14-1301/TP

21

2007,21(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn