基于支持向量机的机内测试降虚警技术

摘要：

针对环境因素引起的BIT虚警,提出基于支持向量机的机内测试降虚警技术,建立了虚警与环境因素的关联关系.通过构建多类SVM分类器,将间歇故障与正常状态和硬故障分开,以降低BIT虚警.某型号航空地平仪的试验结果分析表明: 在小训练样本的情况下,支持向量机比神经网络具有更好的间歇故障识别能力,能够有效地降低由环境因素引起的虚警.

关键词：机内测试、虚警、支持向量机

所属期刊栏目：20

分类号：TP277(自动化技术及设备)

在线出版日期：2006-10-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：424-428