诊断间歇故障降低BIT虚警

摘要：

间歇故障的存在及影响是产生BIT(Built-in Test)虚警的一个重要原因.为降低间歇故障引起的虚警,提出一种三状态方法,利用双阈值来区分系统的正常、间歇、永久故障三种状态,并分析得到间歇故障对BIT影响的定量关系.与传统两状态方法相比,基于三状态方法的BIT通过诊断间歇故障,不仅有效地抑制间歇故障引起的虚警,而且还能提高故障检测率.

关键词：机内测试、间歇故障、故障检测率、虚警率

所属期刊栏目：18

分类号：TP277;TN06(自动化技术及设备)

资助基金：部委预研基金41319040202

在线出版日期：2005-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：369-372