磁悬浮硬盘转子控制系统中时序电路测试技术

摘要：

为提高磁悬浮硬盘转子控制系统的可靠性, 提出了对时序芯片的测试方法: 手工测试和计算机辅助测试; 及对时序电路逻辑功能的两种检测技术:基于状态表的测试技术和自动检测技术. 对于时序芯片, 手工测试方法效率较低, 计算机辅助测试方法适用范围更广; 对于电路逻辑功能, 基于状态表的测试技术操作相对困难, 但无须增加额外测试电路; 自动检测技术操作简单, 且测试速度快, 但需要增加辅助检测电路. 时序电路测试技术对保证悬浮硬盘转子各组成部分协同工作十分重要.

关键词：磁悬浮、硬盘、时序电路、测试

所属期刊栏目：17

分类号：TN79(基本电子电路)

资助基金：国家自然科学基金50175084

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：83-86