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10.3969/j.issn.1671-7449.2002.z1.138

测定三维折射率场的同轴全息层析方法

引用
本文在离轴全息层析的基础上,提出将同轴全息与光学共焦及光电探测相结合、以光散射介质三维折射率分布为检测对象的相干层析检测方法.与离轴全息层析相比,同轴全息层析也是微分干涉分析思想的一种实现形式,其主要特点是,光路系统简单,扫描探测点的几何定位比较准确,容易达到较高的折射率测量精度.文中对同轴全息层析的测量原理、光路系统设计、实验方法以及定量分析等做了介绍.对全息层析的几个有关问题做了进一步的分析探讨.

三维折射率、同轴全息、层析

16

TM93

浙江省自然科学基金 100048

2005-12-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

663-667

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16

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