10.3969/j.issn.1671-7449.2002.z1.138
测定三维折射率场的同轴全息层析方法
本文在离轴全息层析的基础上,提出将同轴全息与光学共焦及光电探测相结合、以光散射介质三维折射率分布为检测对象的相干层析检测方法.与离轴全息层析相比,同轴全息层析也是微分干涉分析思想的一种实现形式,其主要特点是,光路系统简单,扫描探测点的几何定位比较准确,容易达到较高的折射率测量精度.文中对同轴全息层析的测量原理、光路系统设计、实验方法以及定量分析等做了介绍.对全息层析的几个有关问题做了进一步的分析探讨.
三维折射率、同轴全息、层析
16
TM93
浙江省自然科学基金 100048
2005-12-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
663-667