10.3969/j.issn.1671-7449.2002.z1.091
用于杂光测量的控制系统
杂光测试是检验光学系统(主要是镜头)质量的一项重要内容.为了获得高信噪比,要使用专门的杂光测试仪检测杂光,分析杂光成因,从而尽可能的消除杂光.本文介绍了某杂光测试仪的测量自动化方案及为提高测量性能而采取的技术措施;重点讨论了模拟目标和探测器通道的控制技术.仪器具有智能仪器的特点,使杂光系数的测量基本实现了自动化,尽可能的减少了用户的操作动作.仪器提供了手动和自动两种测量方法,扫描机构三维可调,数据处理自动完成,记录测量日期,打印输出采样结果、扫描照度曲线及计算的杂光系数.该杂光测试仪已付诸实用.经检测:其重复测量误差在动态时小于0.02%,在定点时小于±0.01%.
杂光测量、杂光测试、测试仪、杂光系数、测量自动化、智能仪器、数据处理、扫描机构、三维可调、模拟目标、控制技术、检测、技术措施、光学系统、高信噪比、打印输出、测量性能、测量误差、测量方法、操作动作
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TN2(光电子技术、激光技术)
2005-12-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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