10.3969/j.issn.1671-7449.2002.04.010
一种基于 MCD 相关跟踪的投影特征快速提取方法
针对产品内部复杂精密元件射线成像检测中有效、快捷的特征提取问题, 在分析 MCD(Maximum Close Distance) 相关跟踪算法的优缺点的基础上, 提出了一种基于 MCD 相关跟踪的投影特征快速提取方法, 它保留了 MCD 算法的抗干扰能力、匹配精度高的优点, 同时将大量的信息压缩为少量的投影特征, 减小了计算量, 提高了检测速度.
相关跟踪、投影特征、特征提取、MCD
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TP274+.51(自动化技术及设备)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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