10.3969/j.issn.1673-1492.2006.01.005
XRF系统灵敏度曲线的标定
将整体会聚透镜0301组合到XRF分析系统,并使用最小焦斑为15的OXFORD高亮微聚焦X射线源作为光源.使用不锈钢合金、化合物、单元素3种薄膜标样标定了此XRF分析系统的灵敏度曲线,并对比了使用透镜和使用光阑两种情况下系统灵敏度曲线的不同.通过计算可知,X光透镜显著提高了系统的灵敏度,两种情况荧光产额数之比对于元素Ni最大,约为2 386;Se元素的比值最小,为575.
X光透镜、薄膜XRF分析、灵敏度
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O434.12(光学)
2006-07-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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