弥散张力成像应用于早产儿脑白质损伤的研究进展

摘要：

脑白质损伤主要发生在<32周白质发育未成熟的早产儿,是造成慢性神经系统发育不良的主要原因,大多会留有神经系统后遗症,对家庭和社会造成极大负担.颅脑彩超和振幅整合脑电图是筛查早产儿脑损伤的主要方法,对非囊性脑白质损伤的敏感性不高.传统的MRI对检测更微小及非囊性病变优于头颅彩超,但不能量化白质损伤程度,在早产儿脑白质损伤的评估中作用有限.弥散张力成像能够可视化白质结构,评估白质纤维髓鞘化程度,是目前唯一可用于研究白质纤维的无创技术,对大脑的微观结构变化更敏感.因此本文就早产儿WMI、DTI检查优势及原理,以及DTI在早产儿脑发育、WMI疾病等应用进展做一综述.

关键词：弥散张力成像、极低出生体质量、早产儿、脑损伤、脑白质损伤

所属期刊栏目：31

分类号：R722(儿科学)

在线出版日期：2020-12-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：3114-3117