环五孔稀疏孔径系统成像性能研究

摘要：

稀疏孔径系统作为高分辨率成像解决方案,其成像性能却受子孔径之间活塞误差和各独立子孔径波前残差强烈影响.以均匀环五孔构型为研究对象,通过对点扩散函数和调制传递函数的表征,数值模拟得到了该构型的成像相关误差指标.从频域覆盖无截断的角度分析了环五孔构型的填充因子,选择范围为27.8%至68.5%.以斯特列尔比(大于0.80)为评价准则,填充因子为43.2%时的子孔径之间的活塞误差最大容忍度约为λ/6,含有独立自适应光学系统的各子孔径的波前残差均方根最大容忍度约为λ/14.填充因子的选择范围从根本上受到子孔径波前残差的限制,而子孔径之间的共相则需以一定的自适应光学校正水平为前提.

关键词：稀疏孔径系统、环五孔构型、干涉成像、波前残差、填充因子

所属期刊栏目：53

分类号：O436.1(光学)

在线出版日期：2024-09-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：137-146