溯源至低温辐射计的硅陷阱探测器紫外波段绝对光谱响应度测量

摘要：

介绍了溯源至低温辐射计的紫外绝对光谱响应度测量装置,对硅陷阱探测器在三个激光波长点进行了绝对光谱响应度校准实验.测量了硅陷阱探测器的空间均匀性和非线性系数,分析了影响测量准确度的各不确定度分量.实验表明:硅陷阱探测器在紫外波段266、325、379 nm三个激光波长点处的绝对光谱响应度测量扩展不确定度分别为0.19％、0.14％、0.11％,可作为紫外波段光辐射功率基准保持和传递的标准探测器,用于提高紫外波段光谱辐射度的校准能力.

关键词：紫外波段、硅陷阱探测器、绝对响应度、低温辐射计、空间均匀性、非线性

所属期刊栏目：45

分类号：TN23(光电子技术、激光技术)

资助基金：The National Basic Research Program of China Nos.J312013A001,JSJC2013210B021 and the National High Technology Research and Development Program of China No.2015AA123702

在线出版日期：2016-10-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：93-97