Si衬底上插入SiO2膜对Ag纳米颗粒陷光性能的影响
采用磁控溅射法在Si衬底上制备了SiO2介质膜,系统地研究了SiO2膜引入对Ag纳米颗粒的表面覆盖率、形貌、形成机理和光学性质的影响.研究发现引入SiO2介质膜后,Ag纳米颗粒的表面覆盖率显著增加,平均粒径明显降低.基于现有的Ag纳米颗粒形成机理,提出了粗糙表面Ag膜断裂模型以解释其形貌发生变化的原因.紫外-可见光分光光度计测试表明,引入SiO2膜并优化其厚度,可使Ag纳米颗粒的偶极消光峰最大红移86nm,但消光峰强度明显下降.数值模拟计算表明,引入SiO2膜的Ag纳米颗粒所能散射的光子数量最小减少2×1018个.因此,在Si衬底上沉积SiO2膜,不利于Ag纳米颗粒陷光性能的提高.
二氧化硅膜、银纳米颗粒、形成机理、消光谱、陷光性能
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O0436.2
The National Natural Science Foundation of China Nos.61006050,61076051,the Natural Science Foundation of Bei JingNo.2151004,the National High Technology Research and Development Program of China No.2011AA50507,the Fundamental Research Funds for the Central Universities No.13ZD05.
2016-07-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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