哈密瓜坚实度的高光谱无损检测技术

摘要：

提出利用高光谱对哈密瓜坚实度进行检测的方法,对比分析了不同波段范围、不同预处理法、不同光程校正法和不同定量校正算法对哈密瓜坚实度预测模型准确度的影响.实验结果表明,在500～820 nm波段光谱区域,采用偏最小二乘法对经过标准正则变换校正的一阶微分处理的光谱建模效果较优,其校正集相关系数为0.873,校正均方根误差为4.18N,预测集相关系数为0.646,预测均方根误差为6.40N.研究表明,应用高光谱对哈密瓜坚实度的无损检测研究具有可行性.

关键词：光谱学、高光谱成像技术、无损检测、偏最小二乘法、坚实度、哈密瓜

所属期刊栏目：42

分类号：O657.39;TP274(分析化学)

资助基金：国家自然科学基金61263041;新疆兵团农业机械重点实验室开放课题KFKT-200902

在线出版日期：2013-07-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：592-595