KDP晶体折射率非均匀性检测系统

摘要：

基于正交偏振干涉法,建立了KDP晶体折射率非均匀性的检测系统,并可实现晶体相位失谐角的间接检测.波前检测系统实现了测试光偏振态的精密控制与切换,采用波长调谐相移的方法去除了测试过程中参考面倾斜引入的误差,优化了抗振动相移算法,提高了波前测试的测量准确度及重复性.通过折射率非均匀性分析算法的设计,解决了晶体厚度变化引入的误差等.小口径晶体元件的测试结果表明系统的折射率非均匀性检测准确度(均方根值)优于10~(-6).

关键词：KDP晶体、折射率非均匀性、正交偏振干涉法、相位匹配角

所属期刊栏目：38

分类号：O43(光学)

资助基金：中国高技术研究发展计划2007AA804206

在线出版日期：2010-03-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：3126-3129