楔条形阳极探测器的性能测试与分析

摘要：

对研制出的楔条形阳极探测器进行了性能分析与实验测试,分析了引起成像畸变的三个重要因素:到达阳极的电子云半径大小、阳极的电容耦合效应和电子读出电路的性能.电子云半径的过大或过小会相应引起成像的 "S"畸变或调制畸变,电容耦合效应和电路噪音也均会引起成像的畸变.此外,测试了探测器的暗计数率、线性度以及空间分辨率等性能,同时分析了微通道板在光照情况下的增益特性和暗计数的一般特性及其产生原因.测试结果表明探测器的成像畸变很小、线性关系较好,空间分辨率优于150 μm,微通道板的暗计数率低于0.4 count/s*cm2.

关键词：阳极探测器、楔条形阳极、微通道板、暗计数、分辨率

所属期刊栏目：38

分类号：TN23;O434.2(光电子技术、激光技术)

资助基金：中科院知识创新工程方向性项目资助

在线出版日期：2009-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：750-755