光锥与CCD耦合效率的理论分析

摘要：

光锥与CCD的耦合技术是研制ICCD图像传感器的关键技术,本文主要从理论上分析并讨论了光锥与CCD耦合器件的耦合效率及其影响因素,进一步分析讨论了耦合效率对耦合器件信噪比的影响.证明了光锥与CCD的耦合效率不仅降低ICCD探测效率而且降低ICCD信噪比,并提出了提高光锥与CCD耦合效率的方法和途径.

关键词：光锥、CCD、耦合效率、信噪比

所属期刊栏目：33

分类号：TN25(光电子技术、激光技术)

资助基金：中国科学院研究所所长基金40001042

在线出版日期：2004-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：318-321