氢化非晶硅薄膜退火形成的纳米硅及其光致发光
本文报道对氢化非晶硅(a-Si∶H)薄膜在600~620℃温度下快速退火10s可以形成纳米晶硅(nc-Si),其Raman散射表明,在所形成的nc- Si在薄膜中的分布是随机的,直径在1.6~15nm范围内,并且在强激光辐照下观察了nc-Si 在薄膜中的结晶和生长情况.经退火所形成的nc-Si可见光辐射较弱,不能检测到它们的光致发光(PL),但用氢氟酸腐蚀钝化后则可检测到较强的红PL,并且钝化后的nc-Si在空气中暴露一定的时间后,其辐射光波长产生了蓝移.文中就表面钝化和量子限制对可见光辐射的重要性作了讨论.
纳米晶硅、光致发光、Raman散射、快速退火
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TB3(工程材料学)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
1200-1204