光折变多重存储的栅自增强读出特性研究
研究了光折变重存储读出时折射率栅自增强特性与记录晶体厚度、记录时的光强比以及写入的折射率栅振幅之间的关系.结果表明记录晶体的厚度大于某一值,才有自增强效应;较小的参物光强比具有较大的自增强效果,能获得较大的读出衍射效率;自增强读出所能达到的最大衍射效率与写入的栅振幅大小无关,而读出时衍射效率增加的速率与写入的栅振幅成反比.
多重全息存储、栅自增强读出、衍射效率
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O4(物理学)
中国科学院资助项目;陕西省自然科学基金
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
209-213