ICP-OES法测定硅钙合金中铁含量的试验研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1001-9677.2022.05.034

ICP-OES法测定硅钙合金中铁含量的试验研究

引用
研究了电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)法测定硅钙合金中铁含量的应用性.通过对分析测试线、称样量、试样溶解、谱线干扰的研究,实验结果表明选取铁元素259.940nm谱线,钙基体打底,配制合适的标准曲线,利用电感耦合等离子体发射光谱仪能够快速准确的测定硅钙合金中铁含量.结果与硅钙标准物质标准值相吻合,结果的相对标准偏差RSD≦1.00%.方法较滴定法简化了操作.

ICP-AES、硅钙合金、铁、快速

50

O657.31(分析化学)

2022-03-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

115-116,121

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

广州化工

1001-9677

44-1228/TQ

50

2022,50(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn