X射线光电子能谱测定元素化学态的常见问题探讨

摘要：

X射线光电子能谱(XPS)是一种表面灵敏的定量谱学技术,可以用于分析材料中存在的元素(除氢、氦)构成以及元素的化学态和电子态,是研究原子、分子及固体材料的一种有力工具.XPS在分峰拟合过程中,半峰宽、峰面积、峰间距以及已有的实验结果的归纳均会影响分峰结果的准确性.以一种新型复合材料-纳米零价铁活性炭(NZVI/AC)为例,通过XPS分析其去除水中Cr(Ⅵ)过程中材料表面的元素价态变化,探讨分峰过程中常见的错误对实验结果造成的影响.

关键词：X射线光电子能谱(XPS)、分峰、化学价态

所属期刊栏目：48

分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：黔科合基础20181089号;黔科合平台人才项目[20185715

在线出版日期：2020-09-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：85-87