ICP-OES测定镍钴锰氢氧化物中硅含量

摘要：

采用电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-OES)测定镍钴锰三元氢氧化物中硅元素的含量.研究了锰对镍钴锰氢氧化物中硅测试的干扰,发现在最灵敏波长251.611 nm下,硅的检测值随着溶液中锰含量的增加而增加,而在次灵敏波长212.412 nm下检测,硅的检测值不随溶液中锰含量的变化而变化.该方法检出限为0.014 mg/L,相对标准偏差为0.749％,加标回收率为95％ ～105％之间.因此,镍钴锰氢氧化物中硅测试应使用次灵敏波长212.412 nm.

关键词：镍钴锰氢氧化物、硅含量、电感耦合等离子体原子发射光谱仪

所属期刊栏目：47

分类号：O655.9(分析化学)

在线出版日期：2019-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：128-130