X射线荧光光谱法快速测定打结料中多种成分
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1001-9677.2017.02.032

X射线荧光光谱法快速测定打结料中多种成分

引用
采用粉末压片法制样,用X射线荧光光谱快速测定打结料中MgO、Al2 O3、SiO2、Fe2 O3和CaO五种成分.采用国家标准样品和人工合成五种标准样品建立工作曲线,曲线校正过程中将镁的过滤参数改为Brass(200μm)滤光片并在镁的基体校正中加入Al2 O3,最终获得准确度高并具有良好精密度的工作曲线.在对实际样品的测定中,与IQ+半定量方法相比,分析结果理想.

打结料、X射线荧光光谱法、快速测定、粉末压片法

45

O657.3(分析化学)

2017-03-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

98-100

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

广州化工

1001-9677

44-1228/TQ

45

2017,45(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn