10.3969/j.issn.1000-0682.2008.06.006
基于MSP430单片机的晶化监控系统设计与实现
针对非晶材料晶化过程的电特性,提出了晶化温度控制和电阻率测试的总体设计方案,介绍了监控系统硬件和软件设计,并具体设计了以MSP430单片机为核心的智能温度控制和电阻率测试装置.试验结果表明该系统既提高了控制精度和可靠性,降低了开发成本,又能准确及时地实现非晶材料晶化过程电特性的在线动态研究.
晶化监控、组合自校正、MSP430
TP368(计算技术、计算机技术)
甘肃省有色金属新材料国家重点实验室开放基金自治项目SKL05010;甘肃省自然科学基金资助项目ZS022-A25-039
2009-03-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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23-25,56