数控折弯机滑块检测电路的设计与实现

摘要：

数控折弯机控制系统中对滑块位移的检测采用光栅尺,该文分析了光栅输出信号四倍频细分与辨向的原理,给出了采用可编程逻辑器件(CPLD)实现四倍频细分辨向与计数的设计方法,利用VHDL硬件描述语言编写了四倍频细分辨向与计数模块程序,并进行了功能仿真.仿真结果表明,电路能够满足数控折弯机控制系统的要求,而且电路简单,修改容易.

关键词：数控折弯机滑块检测、细分辨向与计数、仿真、可编程逻辑器件(CPLD)

分类号：TH113.2+1

在线出版日期：2008-05-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：50-52