高压对钴酸锂的晶体结构和离子导电率的影响
采用金刚石对顶砧(DAC)高压产生装置,结合同步辐射X射线衍射(XRD),对钴酸锂(LiCoO2)粉末样品进行室温下原位高压X射线衍射实验,最高压强达到20.3 GPa.研究结果表明:在20.3 GPa下,LiCoO2的晶体结构非常稳定,并没有发生结构相变;在20.3 GPa范围内测量了晶体沿不同晶轴a、c方向的压缩比,发现LiCoO 2沿c轴方向的压缩率是沿a轴方向的4.5倍;使用二阶Birch-Murnagha方程拟合出钴酸锂样品的等温状态方程.另外还采用高压原位交流阻抗谱技术(EIS),测量了不同压强下钴酸锂中锂离子导电率,最高压强达到16.8 GPa时,发现在实验的压强范围内,随着压强的增加,离子导电率减小.最后将高压下锂离子的电导率与钴酸锂的晶体结构进行联系,进一步阐述了高压下钴酸锂的微观结构和电学性能之间的关系.
钴酸锂、金刚石对顶砧、X射线衍射、离子导电率
31
O521.2(高压与高温物理学)
国家自然科学基金U1530402,51527801
2017-11-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
529-534