高压下TiN等结构相变的第一性原理研究

摘要：

利用基于密度泛函理论的赝势平面波方法和线性响应理论,研究了TiN的物态方程、电子能带结构和声子色散曲线随压强的变化关系.结果表明:TiN 的电子能带结构并未随着压强的增加而出现反常,没有出现电子的拓扑结构相变;零压下出现软化的声子模式并没有随着压强的增加而继续软化.因此可以认为在0～12GPa 压强范围内,TiN 发生等结构相变的原因不是由于电子的拓扑形貌发生变化和声子软化引起的.

关键词：等结构相变、电子能带、声子色散关系

所属期刊栏目：20

分类号：O521.2;O481(高压与高温物理学)

资助基金：国家自然科学基金10444001;教育部高等学校博士学科点专项科研基金;教育部留学回国人员科研启动基金;国家重点基础研究发展计划973计划2005CB724400

在线出版日期：2006-10-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：225-229