高聚物P（EO）n-CuBr2薄膜在流体静高压下离子电导率和介电常数的提高(Ⅰ）发现三种不同相的压力效应

摘要：

用混溶蒸发法制备出一系列高聚物P（EO）n-CuBr2（n＝4，8，12，16，24）薄膜，并详细测量它们在0．1～350MPa静水压范围内的复阻抗谱、在0．1～2400MPa静水压范围内的交流电导率以及介电常数。结果表明：离子电导率对压力的依赖关系（σ-p曲线)是条折线，可分解为四条直线相迭加。进一步做X射线衍射物相分析，它们分别归于PEO非晶相的压力效应、PEO结晶相的压力效应和析出CuBr2新相的压力效应。由此计算出上述三种不同相所对应的激活体积、截止压力各自随高聚物P（EO）n-CuBr薄膜组分的变化。为减小离子电导率的压力效应提供了物理基础。

关键词：聚乙烯氧化物薄膜、静水压、复阻抗谱、离子电导率、介电常数

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分类号：O521+.21;O631.2+3(高压与高温物理学)

资助基金：石油大学北京校科研和教改项目99-I-02

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共12页

页码：12-23