质量和成本约束下CSP-T和Spk集成过程控制方案

摘要：

多水平连续抽样检验方案(CSP-T)是在线过程质量控制工具,但该方案的第一类风险和第二类风险都较高,且不能满足成本约束.提出了CSP-T和过程良率指数(Spk)集成过程控制方案,该集成方案在满足质量约束的同时,以最小成本运行,并将两类风险控制在既定水平.建立了极限检验能力下的最优CSP-T方案,依据数据的计数特征驱动质量控制方案运行.基于Spk估计的精确分布建立了风险控制方案,依据数据的计量特征驱动风险控制方案运行.质量控制方案和风险控制方案是独立互补关系.相比于CSP-T方案,检验工作量没有增加.企业案例验证了集成控制方案的可行性和有效性.

关键词：过程控制、连续抽样方案、过程良率指数、成本约束、质量约束

所属期刊栏目：23

分类号：TH165+.4

资助基金：国家自然科学基金资助项目;国家社会科学基金一般资助项目

在线出版日期：2020-07-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：154-163