基于田口质量损失函数的非正态EWMA控制图优化设计

摘要：

结合随机过程均值偏移的概率分布和田口质量损失函数,研究了非正态EWMA控制图的优化设计问题.利用Burr分布近似各种非正态分布,使田口质量损失函数的总平均值最小进而确定参数的最优值,对比研究表明该方法设计的非正态EWMA(ML-EWMA)控制图明显优于统计方法设计的非正态EWMA控制图,具有较小的质量损失.

关键词：EWMA控制图、非正态分布、田口质量损失函数、随机过程均值偏移

所属期刊栏目：14

分类号：O213.1(概率论与数理统计)

资助基金：国家自然科学基金资助项目70771102,71002073;航空科学基金资助项目2009ZG55019,2008ZG55019;河南省高校科技创新人才支持计划项目2010HASTIT024

在线出版日期：2012-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：75-78