与控制点方法论相结合的V-mask累积和控制图

摘要：

V-mask累积和控制图虽然能够有效地监控过程中发生的微小偏移,但是因为它需要存储大量统计量且计算时间较长,所以在计算机中实施起来比较困难.为了解决这一问题,介绍了将控制点方法论应用于V-mask累积和控制图这一方法,并通过实例来进一步说明.结果表明,与控制点方法论结合的控制图减少了存储量,缩短了计算时间,而且将在顾客满意度控制中得到广泛应用.

关键词：顾客满意度、V-mask累积和控制图、控制点方法论

所属期刊栏目：10

分类号：F406.3(工业经济理论)

资助基金：国家自然科学基金70372062;教育部跨世纪优秀人才培养计划NCET-04-0240

在线出版日期：2007-03-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：48-52