纳米CuCr50触头材料电弧侵蚀特性

摘要：

近年来,纳米CuCr触头材料在截流水平、耐压能力等方面的表现优于微晶CuCr触头材料.笔者利用真空触点模拟装置和基于虚拟仪器的电器电寿命测试系统,研究了直流低电压、小电流下的纳米CuCr50触头材料的电孤侵蚀量与分断燃弧时间和触头表面形貌之间的关系,同时采用两种微晶CuCr50触头材料作为对比.利用电光分析天平纳米CuCr50触头材料的侵蚀量,利用电子扫描显微镜测量触头表面形貌.结果表明:纳米CuCr50触头材料的平均分断燃孤时间和侵蚀量均高于两种微晶CuCr50触头材料.纳米CuCr50触头表面Cr颗粒细化及均匀分布,有利于分散电弧.纳米CuCr50阴极触头表面电弧烧蚀比较均匀,而两种微晶CuCr50触头阴极表面电弧局部烧蚀严重,出现明显的凹坑侵蚀.

关键词：纳米材料、CuCr材料、燃弧时间、电弧侵蚀

所属期刊栏目：48

分类号：TM206;TB383(电工材料)

在线出版日期：2012-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：15-19