一种高反光物体的三维测量方法
条纹投影轮廓术在测量高反光物体时表面会出现过度曝光的现象,致使对应区域的相位数据缺失.提出一种高反光物体直线运动的三维测量方法.仅向高反光物体投影一帧固定光栅,随着物体在投影区域直线运动,采集两帧高反光区域不重合位置的变形条纹图像.随后,通过所提的具有单帧特性的计算莫尔轮廓术分别从这两帧变形条纹图像中进行物体在这两个位置的初步三维重建.最后,通过像素匹配、点云配准与融合获得物体完整三维重建.该方法在不增加额外设备的条件下,只用一帧光栅,实现了比传统单目 自适应条纹投影算法更高的精度,提高了测量的实用性.实验结果证明该方法的可行性和有效性.
光学三维测量、计算莫尔轮廓术、条纹投影轮廓术、高反光物体、点云配准与融合、像素匹配
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TP391.4(计算技术、计算机技术)
2023-05-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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